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大行程全自動影像測量儀-LT系列全自動影像測量儀LT系列是科唯儀器針對大尺寸工件精密測量需求設(shè)計的全尺寸檢測設(shè)備。LT系列集非接觸式影像、激光和接觸式探針檢測功能于一體，可全面確保精密工件加工工藝的二維尺寸、高度尺寸、空間尺寸準(zhǔn)確性，根據(jù)不同產(chǎn)品的工藝需求搭配不同的軟硬件可滿足PCB行業(yè)、液晶行業(yè)、鈑金行業(yè)、背光行業(yè)、鋰電行業(yè)等上下游工藝中的不同生產(chǎn)需求，提高生產(chǎn)效率。 全自動影像測量儀LT系列是科唯儀器針對大尺寸工件精密測量需求設(shè)計的全尺寸檢測設(shè)備。LT系列集非接觸式影像、激光和接觸式探針檢測功能于一體，可全面確保精密工件加工工藝的二維尺寸、高度尺寸、空間尺寸準(zhǔn)確性，根據(jù)不同產(chǎn)品的工藝需求搭配不同的軟硬件可滿足PCB行業(yè)、液晶行業(yè)、鈑金行業(yè)、背光行業(yè)、鋰電行業(yè)等上下游工藝中的不同生產(chǎn)需求，提高生產(chǎn)效率。 產(chǎn)品特征：1、設(shè)備測試精度高、測量快速、運行平穩(wěn)、放大倍率高、分辨率高 2、超高精度移動龍門驅(qū)動結(jié)構(gòu) 3、進(jìn)口設(shè)備替代機(jī)型 規(guī)則參數(shù)：

高精度全自動影像測量儀-HP系列全新高精度設(shè)計，空間測量高度300mm采用全花崗石結(jié)構(gòu)，固定橋式，移動工作臺結(jié)構(gòu)，精密滾珠絲桿，直線電機(jī)驅(qū)動有效減少阿貝誤差情況下提升了設(shè)備的高速性、性、平穩(wěn)性、實現(xiàn)高精度測量。 全新高精度設(shè)計，空間測量高度300mm 采用全花崗石結(jié)構(gòu)，固定橋式，移動工作臺結(jié)構(gòu)，精密滾珠絲桿，直線電機(jī)驅(qū)動有效減少阿貝誤差情況下提升了設(shè)備的高速性、性、平穩(wěn)性、實現(xiàn)高精度測量。 HP系列搭載1:13高分辨率自動同軸光光學(xué)系統(tǒng)，集非接觸式影像、激光和接觸式探針檢測功能于一體，可全面確保精密工件加工工藝的二維尺寸、高度尺寸、空間尺寸準(zhǔn)確性，根據(jù)不同產(chǎn)品的工藝需求搭配不同的軟硬件可滿足3C行業(yè)、液晶行業(yè)、醫(yī)療行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)等上下游工藝中的不同生產(chǎn)需求，提高生產(chǎn)效率。 規(guī)格參數(shù)：

復(fù)合式影像測量儀-HE系列廣泛應(yīng)用于汽車電子、手機(jī)零部件、精密機(jī)械加工、金屬加工件、塑料件、液晶面板和相關(guān)元器件。 選擇的理由： 1、配置1：8物方遠(yuǎn)心鏡筒，與HP系列光學(xué)系統(tǒng)同一設(shè)計理念及工藝，與NAVITAR鏡筒媲美，后期維護(hù)成本極低。 2、采用全花崗石結(jié)構(gòu)，固定橋式，移動工作臺結(jié)構(gòu)，精密滾珠絲桿，減少阿貝誤差，與?？怂箍礝PTIV系列、蔡司 OINSPECT同等設(shè)計。3、多樣化光源設(shè)計，解決測量中難題，看得見、看得清、可靠穩(wěn)定。 規(guī)格參數(shù)：

X系列芯片封裝尺寸測量儀半導(dǎo)體芯片封裝高精度檢測設(shè)備是科唯儀器針對半導(dǎo)體類小而精的產(chǎn)品進(jìn)行高精高效率測量的檢測設(shè)備。設(shè)計理念追求化繁為簡，采用8x或13X物方遠(yuǎn)心鏡筒配備10X/0.3高分辨率金相物鏡，實現(xiàn)精而準(zhǔn)的測量需求。 半導(dǎo)體芯片封裝高精度檢測設(shè)備是科唯儀器針對半導(dǎo)體類小而精的產(chǎn)品進(jìn)行高精高效率測量的檢測設(shè)備。設(shè)計理念追求化繁為簡，采用8x或13X物方遠(yuǎn)心鏡筒配備10X/0.3高分辨率金相物鏡，實現(xiàn)精而準(zhǔn)的測量需求。 自動測量模塊 直觀的測量界面，方便操作員立即發(fā)現(xiàn)未通過檢測的工件以及超過公差范圍的產(chǎn)品。 無需精確擺放被測工件，操作員可快速裝載多片工件，系統(tǒng)自動識別并測量被測產(chǎn)品。 自動收集所有必須的數(shù)據(jù)做統(tǒng)計，為每一個測量的單件創(chuàng)建一份報告，無需額外增加時間。 可測量元素：長度，距離，內(nèi)徑，外徑，角度，平行度，對稱性，正交性，輪廓的任何幾何測量，DXF比對等。 專業(yè)應(yīng)用，只為半導(dǎo)體測量而生 測量芯片位置尺寸 測量芯片XY位置 測量封帽后芯片同心度 測量共晶后芯片同心度、高度、打線的焊盤大小 測量焊盤高度、線弧高度 P......

大行程一鍵式閃測測量儀VT閃測測量儀是一款專為平面快速測量而設(shè)計的光學(xué)測量儀。測量系統(tǒng)易于使用，測量速度快，一次可測量多片產(chǎn)品，在保證精準(zhǔn)度與全尺寸測量的同時，極大的減少了測量時間，提高測量效率。 VT閃測測量儀是一款專為平面快速測量而設(shè)計的光學(xué)測量儀。測量系統(tǒng)易于使用，測量速度快，一次可測量多片產(chǎn)品，在保證精準(zhǔn)度與全尺寸測量的同時，極大的減少了測量時間，提高測量效率。 規(guī)格參數(shù)：

工具金相顯微鏡（中性） 搭載高分辨率光學(xué)系統(tǒng)，保證產(chǎn)品觀察無虞 電動 Z 軸升降，更符合人工學(xué)設(shè)計 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)協(xié)同更加方便 XY 軸移動輕順，定位精準(zhǔn) 工作臺嚴(yán)格表面鍍層工藝，保證外觀 技術(shù)參數(shù)型號 JX3020 JX3030 JX4030 三軸行程(mm) 300*200*150 300*300*150 400*300*150 工作臺面尺寸(mm) 506*356 456*456 ......